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Aehr Receives Order From New Customer for FOX-NP Multi-Wafer Test and Burn-in System for Silicon Carbide Power MOSFETs

Aehrは、シリコンカーバイドパワーMOSFET用のFOX-NPマルチウェハーテストおよびバーンインシステムの新規顧客からの注文を受けました。

Aehr Test Systems ·  04/02 00:00

カリフォルニア州フリーモント、2024年4月2日 - 半導体テスト及びバーンイン機器の世界的なサプライヤーであるエアテストシステムズ(NASDAQ:AEHR)は、本日、シリコンカーバイドデバイスのエンジニアリング、評価および少量の生産ウエハレベルテストとバーンインに使用するためのFOX-NPウエハレベルテストおよびバーンインシステム、複数のウエハパックコンタクタ、およびFOXウエハパックアライナーの最初の顧客オーダーを受け取ったことを公表しました。顧客は、自動車、産業、モバイルおよび消費者アプリケーションを含む様々な業種にサービスを提供している、ヨーロッパ、アジア、アメリカにまたがる10億ドル規模の世界的な半導体企業です。FOX-NPシステムは、FOXウエハパックアライナーと最初のウエハパックを含む形で、数ヶ月以内に出荷される予定です。FOX-NPシステムは、Aehrの独自のウエハパック全ウエハコンタクタを使用して、シリコンカーバイドパワー半導体の新しい先進的なテストおよびバーンイン機能を可能にする新しいバイポーラ電圧チャネルモジュール(BVCM)および超高電圧チャネルモジュール(VHVCM)オプションで構成されています。

エアテストシステムズのゲイン・エリクソン社長兼CEOは、次のようにコメントしています。「この新しい顧客が、シリコンカーバイドパワーデバイスのエンジニアリング、評価、および生産のためにFOX-Pソリューションを選択したことを大変うれしく思っています。この期間中、エアのチームと私たちのテクノロジーソリューションと共に作業した後、彼らは、これらの目標を達成するための私たちの力を信頼していると感じました。彼らがFOXソリューションを選択した際の主な特徴は、継続的な追跡性と、必要なテスト時間のためにウェーハ上のすべてのデバイスがバーンインされた証明を含む、目標バーンインと安定化要件を費用対効果が高く実装する能力であることです。

「この顧客は現在、幅広い自動車製品を保有しており、自動車、産業、電化インフラなどの用途をカバーするシリコンカーバイド市場に参入しています。私たちのソリューションの主な特徴には、FOX-NPシステムを使用してエンジニアリング、評価、少量生産からFOX-XP-自動ウエハパックアライナーを備えた大量生産までスケーリングする能力があります。彼らは、高容量生産に向けたFOX-XPマルチウエハテストおよびバーンインシステムに移行する予定であることを私達に伝えてくれました。AehrのFOX-P技術は、エンジニアリングから高容量生産へのシームレスな移行を実現し、システム間の100%の互換性を備えています。

「この顧客は、工業およびパワーアプリケーションにおけるシリコンカーバイドパワーデバイスの巨大な機会を見出しています。William Blairによると、2030年には電気自動車関連のシリコンカーバイドデバイスの需要を満たすために4.5ミリオン枚の6インチ相当ウェハーが必要であり、2030年には、産業、太陽光、電車、エネルギー変換などのアプリケーションに対応するために2.8ミリオン枚のウエハーが必要です。当社のソリューションの所有コストは、パッケージパーツバーンインよりもこれらのデバイスに対してよりコスト効率が良く効率的です。これは、パッケージパーツバーンインの代わりにウエハレベルバーンインがより優れた代替手段であることの強い証言です。

「FOX-NPおよびFOX-XPマルチウエハテストおよびバーンインシステム、Aehrの独自のウエハパック全ウエハコンタクタを備えたFOXウエハパックアライナー、複数のウエハパックコンタクタ(全ウエハテスト)または複数のDiePakTMキャリア(切断ダイ/モジュールテスト)構成で使用できるFOX-XPおよびFOX-NPシステムは、半導体パワーコンポーネント、Siフォトニクス、その他の光学デバイス、2Dおよび3Dセンサー、フラッシュメモリ、磁気センサー、マイクロコントローラ、およびその他の最先端のICをウェーハ形状で、単一または多ダイススタックパッケージに組み立てる前または切断ダイまたはモジュール形状で機能テストおよびバーンイン/サイクルが可能です。

「Aehr Test Systemsについて」 カリフォルニア州フリーモントを本拠とするAehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。電気自動車、電気自動車充電インフラ、太陽光および風力発電、コンピューティング、データおよびテレコミュニケーションインフラ、および固体メモリおよびストレージなど、複数のアプリケーションに使用される半導体の品質、信頼性、安全性、およびセキュリティニーズの増加により、追加のテスト要件、増分容量要件、およびAehr Test製品およびソリューションの新しい機会が生じています。Aehrは、FOX-PシリーズのテストおよびバーンインシステムとFOX WaferPakアライナー、FOX WaferPakコンタクタ、FOX DiePakキャリア、およびFOX DiePakローダーを含む、いくつかの革新的な製品を開発・発表しています。FOX-XPおよびFOX-NPシステムは、フルウエハコンタクトおよび切断ダイ/モジュールテストおよびバーンインシステムであり、先進的なシリコンカーバイドベースのパワーコンポーネント、モバイルフォン、タブレット、および他のコンピューティングデバイスで使用される2Dおよび3Dセンサー、メモリ半導体、プロセッサ、マイクロコントローラ、システムオンチップ、フォトニクスおよび統合光学デバイスなど、幅広いデバイスをテスト、バーンイン、安定化することができます。FOX-CPシステムは、FOX-P製品ファミリーの最新の追加で、ロジック、メモリ、およびフォトニックデバイス用の低コストシングルウエハコンパクトテストソリューションです。FOX WaferPakコンタクタは、300mmまでのウエハをテスト、バーンイン、および安定化することができるユニークなフルウエハコンタクタを備えており、ICメーカーはFOX-Pシステムでフルウエハのテスト、バーンイン、および安定化を実施することができます。FOX DiePakキャリアは、FOX-NPおよびFOX-XPシステムで1つのDiePakあたり最大1024個のデバイスを並列にテスト、バーンイン、安定化できるようにします。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト

「FOX-XPおよびFOX-NPシステム」 FOX-XPおよびFOX-NPシステムは、複数のウエハパックコンタクタ(全ウエハテスト)または複数のDiePakTMキャリア(切断ダイ/モジュールテスト)構成で使用できるフルウエハコンタクトおよび切断ダイ/モジュールテストおよびバーンインシステムであり、先進的なシリコンカーバイドベースのパワーコンポーネント、ガリウム窒化物パワーコンポーネント、シリコンフォトニクスおよびその他の光学的デバイス、2Dおよび3Dセンサー、フラッシュメモリ、磁気センサー、マイクロコントローラ、システムオンチップ、および先進的なIC技術など、幅広いデバイスをテスト、バーンイン、安定化することができます。

「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト

「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト 「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト 「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト 「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト 「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト 「Aehr Test Systemsについて」 Aehr Test Systemsは、シリコンウエハレベル、切断ダイ、およびパッケージパーツ形式の半導体デバイスをテスト、バーンイン、安定化するためのテストソリューションを提供するリーディングカンパニーであり、世界中に数千のシステムを設置しています。詳細については、Aehr Test Systemsのウェブサイト .

「Safe Harbor Statement」

本プレスリリースには、1933年証券法第27条および1934年証券取引法第21条の意味におけるいくつかの前向きな声明が含まれています。前向きな声明は、一般的に将来のイベントまたはエアテストシステムズの将来の財務または運営性能に関連します。一部の場合、前向きな声明は、「可能性がある」「するでしょう」「すべきです」「期待する」「計画する」「見込む」「行く」「できる」「意図する」「ターゲット」「プロジェクト」「考慮する」「信じる」「見積もる」「予測する」「潜在的な」「継続する」またはこれらの単語の否定形または他の類似する用語や表現を含んでいるため、エアテストシステムズの期待、戦略、優先事項、計画、または意図に関連していることがあります。本プレスリリースの前向きな声明には、エアテストシステムズの新規および既存顧客の将来の要件と注文、プロプライエタリWaferPakTMおよびDiePak消耗材料の予測される予約、およびエアテストシステムズ製品の長期的な需要と主要市場の魅力に関する期待などが含まれます。本プレスリリースに含まれる前向きな声明は、その他のリスクおよび不確実性も含まれますが、これらは証券取引委員会に時折提出されるエアテストシステムズの最近の10-K、10-Q、およびその他の報告書で詳細に説明されています。Aehrは、本前向きな声明に含まれる情報が、本プレスリリースの日付以降に発生した事象または状況を反映するように更新する義務を放棄します。

連絡先:
エアテストシステムズ
バーノン・ロジャーズ
EVPセールス・アンド・マーケティング
(510)623-9400 x215
vrogers@aehr.com
MKR投資家関係会社
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アナリスト/投資家コンタクト
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